X射線晶體定向儀利用X射線衍射原理,精密快速地測定天然和人造單晶(壓電晶體、光學(xué)晶體、激光晶體、半導(dǎo)體晶體)的切割角度，與切割機(jī)配備可用于上述晶體的定向切割，是精密加工制造晶體器件*的儀器。該儀器廣泛應(yīng)用于晶體材料的研究、加工、制造行業(yè)。
 

　　X射線晶體定向儀操作簡便，不需要專業(yè)知識(shí)和熟練的技巧。數(shù)字顯示角度，容易觀察，減少了讀數(shù)錯(cuò)誤。顯示器可在任一位置調(diào)零，便于顯示晶片角度偏差值。雙測角儀可同時(shí)工作，提高了效率。具有峰值放大的特殊積分器，提高了檢測精度。X光管與高壓電纜一體化，增加高壓可靠性，探測器高壓采用DC高壓模塊，真空吸氣樣品板，提高了測角精度與速度。
 

　　晶體定向方法很多,如光象法、錐光圖法、勞埃定向法以及近年來利用定向儀發(fā)展的幾種快速定向法等.光象法、錐光圖法應(yīng)用非常局限,精度很差,且無法定向切割出任意晶面.勞埃法雖然很經(jīng)典、適用性廣,但定向過程十分繁瑣、費(fèi)時(shí),對(duì)操作者要求有較豐富的經(jīng)驗(yàn).利用定向儀的幾種快速定向法,具有較強(qiáng)的實(shí)用性,但要定向切割出任意晶面,其操作過程也很繁瑣。
 

　　我們發(fā)展了一種僅需已知晶體某一晶面，即能定向切割出所需任意晶面(或晶向)的方法，定向切割操作快速、準(zhǔn)確、簡捷。在實(shí)際工作中，已知晶體的某一晶面是普遍存在的事實(shí)，例如提拉法、水溶液法、水熱法和熔鹽法生長的晶體，至少已知某一晶面。無籽晶的焰熔法和Bridgman等法生長的晶體一般雖無方向特征，但因解理性是晶體的基本屬性，很容易從晶體上得到易解理面。焰熔法生長的紅寶石極易得到其解理面(1102)或(1120)，用Brigdman方法生長的AgGaSe2晶體極易得到(101)或(112)解理面。因而，此法在實(shí)際工作中具有很強(qiáng)的實(shí)用性和推廣價(jià)值。